Kürzere Mustergenerierungszeit Siemens präsentiert Test-Software für analoge Schaltungen

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Mit der Test-Software Tessent AnalogTest von Siemens Digital Industries Software lässt sich die Mustergenerierungszeit für Tests analoger Schaltungen von Monaten auf Tage reduzieren.

Die Test-Software Tessent AnalogTest von Siemens Digital Industries Software ermöglicht es, analoge Schaltungen in integrierten Schaltkreisen (ICs) bis zu 100 Mal schneller als mit konventionellen manuellen Verfahren zu testen. Das Testen analoger Schaltungen ist traditionell sehr arbeitsintensiv, sie erfordert eine längere Testprogrammierung und kostspielige Mixed-Signal-Testgeräte. Zusammen mit der Tessent DefectSim-Technologie von Siemens trägt die neue Tessent AnalogTest-Software dazu bei, die Testprogrammierungszeit für analoge Schaltungen in ICs durch automatisch generierte DFT-Schaltungen (Design-for-Test) und digitale Testmuster für nahezu jeden analogen Schaltungsblock drastisch zu verkürzen. Die Tests laufen auf fast jedem Testgerät in weniger als einer Millisekunde ab. Die Fehlerabdeckung kann in der Simulation bis zu 100 Mal schneller als bei spezifikationsbasierten Tests überprüft werden.

Mit der Einführung der Test-Software ist laut Hersteller die erste automatisierte DFT-Lösung für analoge Schaltungen in ICs verfügbar, die digitale Vektoren für das Testen und die effiziente Berechnung der Testabdeckung vor dem Tape-Out für die Chipproduktion liefert. Die Lösung nutzt digitale automatisierte Testgeräte (ATE) für die Entwicklung analoger Schaltungen, um Kosten zu senken und die Produktivität im Vergleich zur Verwendung kostspieligerer Mixed-Signal-Testgeräte zu steigern. Diese Beschleunigung ermöglicht es IC-Designern, innerhalb weniger Stunden eine hohe IEEE-P2427-basierte Fehlerabdeckung für einzelne Schaltblöcke zu erreichen (mehr als 90 Prozent) und zu überprüfen, wodurch neue Geschwindigkeitsmaßstäbe gesetzt und die Markteinführungszeiten drastisch verkürzt werden.

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„Diese bahnbrechende Software bietet schnelle Testergebnisse bei gleichzeitig erhöhter analoger Fehlerabdeckung und bis zu 100 Mal schnellere Tests im Vergleich zu konventionellen Methoden“, erklärt Ankur Gupta, Senior Vice President und General Manager, Digital Design Creation Platform, Siemens Digital Industries Software. „Die Tessent AnalogTest-Software repräsentiert einen gewaltigen Fortschritt bei der Bewältigung zentraler Herausforderungen in Bezug auf die Qualität und Kosten der Prüfung analoger Schaltungen und ermöglicht es unseren Kunden, Prozesse zu rationalisieren und gleichzeitig die Gesamttestkosten zu senken.“

Test-Software ermöglicht Fehlerabdeckung von über 95 Prozent

Der langjährige Tessent-DefectSim-Kunde onsemi hat die Test-Software für ein Design nach dem Tape-Out eingesetzt. Mit diesem Tool konnte das Unternehmen eine analoge Fehlerabdeckung von über 95 Prozent und eine mehr als 100-fache Verbesserung der Testzeit im Vergleich zu konventionellen Testmethoden erzielen. „Die größte Herausforderung, um DPPB-Qualität in analogen und Mixed-Signal-Produkten zu erreichen, ist das Fehlen strukturierter Design-for-Test- und Testgenerierungsmethoden für analoge Schaltungen. Mit dem neuen Tool lassen sich analoge DFT-Lösungen und zugehörige Tests automatisch generieren“, erklärt Steven Gray, Senior Vice President, New Product Development bei onsemi. „Durch unsere frühzeitige Zusammenarbeit mit Siemens sind wir optimistisch, dass diese Methodik zu kürzeren Entwicklungszeiten, wesentlich schnelleren Tests und besserer Qualität führen wird, ähnlich wie beim Scan-Verfahren, das DFT und Tests digitaler Schaltungen verbessert hat.“

Die Test-Software erweitert auf einzigartige Weise die Fähigkeiten zur Erstellung struktureller Tests, indem sie basierend auf spezifikationsbasierten Tests auch Simulationsprüfstände erstellt und die intuitiven High-Level-ICL- und PDL-Testbeschreibungen gemäß IEEE P1687.2 verwendet, die eine analoge Erweiterung des weit verbreiteten digitalen IJTAG-Standards darstellen. Diese Tests können den analogen Testablauf und die Fehlerabdeckung für algorithmische Anpassungen, parametrische Top-up-Tests oder die Metriken der funktionalen Sicherheit gemäß ISO 26262 verifizieren. Außerdem kann eine Einbettung der Scantests diese Metriken weiter verbessern.

Die Test-Software ist bei den ersten Partnern bereits im Einsatz und wird ab Dezember 2025 allgemein verfügbar sein. Weitere Informationen finden Sie unter: www.siemens.com/tessent.